年展出的新产品
动静态可靠性测试设备
Suzhou General Test
高温动态栅偏测试设备(HTDGS)主要用于半导体器件的动态栅偏试验，设备可以施加指定的栅极压力（具体压力客户可以根据实际需求进行配置），能通过计算机设定试验参数和监控参数，采集并记录所有实时测试参数，如温度、时间、电压、漏电流等，试验过程中可以按照程序设置要求进行阈值电压VGETH等参数的监测。机台阈值电压测量满足测试标准AQG324、JEP183A的Gated-diode方法，同时参考JEP184给出各种测试模型。
展位：8220